| 发明名称 |
Dram-type integrated semiconductor memory and method for testing it |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
HK218096(A) |
申请公布日期 |
1996.12.27 |
| 申请号 |
HK19960002180 |
申请日期 |
1996.12.19 |
| 申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
KURT HOFFMANN DR PROF;RAINER KRAUS DR;OSKAR KOWARIK DR |
| 分类号 |
G11C11/409;G11C29/00;(IPC1-7):G11C11/409 |
主分类号 |
G11C11/409 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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