| 发明名称 |
Semi-conductor memory internal parallel test method and apparatus |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
HK211496(A) |
申请公布日期 |
1996.12.06 |
| 申请号 |
HK19960002114 |
申请日期 |
1996.11.28 |
| 申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT |
发明人 |
HEINZ MATTES DR DIPL-ING |
| 分类号 |
G11C29/00;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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