发明名称 Temperaturbeständiger Aufbau von Nadelkarten, zur elektronischen Parametermessung integrierter Halbleiterchips, bis 200 Grad
摘要
申请公布号 DE29618441(U1) 申请公布日期 1996.11.28
申请号 DE19962018441U 申请日期 1996.10.22
申请人 GROEBMAIR, VALENTIN, 82054 SAUERLACH, DE;WIMMER, ALBERT, 83558 MAITENBETH, DE 发明人
分类号 G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R1/073
代理机构 代理人
主权项
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