首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Raster Reflektions-Beugungselektronenmikroskop
摘要
申请公布号 DE69211378(T2) 申请公布日期 1996.11.07
申请号 DE19926011378T 申请日期 1992.02.17
申请人 SHIMADZU CORP., KYOTO, JP 发明人 MARUI, TAKAO, KANAGAWA 259-13, JP
分类号 H01J37/28;G01Q30/02;G01Q30/04;H01J31/48;H01J37/22;H01J37/29;H01J37/295;(IPC1-7):H01J37/295;H01J31/26 主分类号 H01J37/28
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com