| 发明名称 |
METHOD FOR MEASURING GAMMA RADIATION, X-RAYS AND ELECTRONIC BEAMS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
RU2065177(C1) |
申请公布日期 |
1996.08.10 |
| 申请号 |
SU19925025327 |
申请日期 |
1992.02.03 |
| 申请人 |
URALSKIJ GOSUDARSTVENNYJ TEKHNICHESKIJ UNIVERSITET |
发明人 |
ZATSEPIN ANATOLIJ F;KORTOV VSEVOLOD S;USHKOVA VERA I;GALANOV GENNADIJ N;LUCHININ ALEKSANDR S |
| 分类号 |
G01T1/00;(IPC1-7):G01T1/00 |
主分类号 |
G01T1/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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