| 发明名称 |
DEFECT INSPECTING METHOD FOR X-RAY TAKING-OUT WINDOW |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH08203691(A) |
申请公布日期 |
1996.08.09 |
| 申请号 |
JP19950027601 |
申请日期 |
1995.01.23 |
| 申请人 |
NIPPON TELEGR & TELEPH CORP <NTT> |
发明人 |
SEKIMOTO MISAO |
| 分类号 |
H05G1/00;(IPC1-7):H05G1/00 |
主分类号 |
H05G1/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
