发明名称 PROCESS AND DEVICE FOR MEASURING AN ALTERNATING ELECTRIC QUANTITY WITH TEMPERATURE COMPENSATION
摘要 <p>Polarisiertes Meßlicht (L) wird in eine Sensoreinrichtung (3) eingekoppelt und nach Durchlaufen der Sensoreinrichtung (3) in einem Analysator (7) in zwei unterschiedlich linear polarisierte Lichtteilsignale (L1, L2) zerlegt. Die entsprechenden elektrischen Intensitätssignale (I1, I2) werden intensitätsnormiert durch Division ihres jeweiligen Wechselsignalanteils durch ihren jeweiligen Gleichsignalanteil. Aus den beiden intensitätsnormierten Signalen S1 und S2 wird ein temperaturkompensiertes Meßsignal M gemäß den beiden Gleichungen S1 = f1(T)*M und S2 = f2(T)*M abgeleitet, wobei f1(T) und f2(T) vorgegebene, insbesondere lineare, quadratische oder exponentielle Fit-Funktionen der Temperatur T sind. Bei linearen Fit-Funktionen f1(T) und f2(T) ergibt sich insbesondere als Meßsignal M = A*S1+B*S2.</p>
申请公布号 WO1996011409(A1) 申请公布日期 1996.04.18
申请号 DE1995001332 申请日期 1995.09.26
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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