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发明名称 ABNORMALITY APPLIED VOLTAGE DETECTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM
摘要
申请公布号 JPH0875818(A) 申请公布日期 1996.03.22
申请号 JP19940297818 申请日期 1994.09.06
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 NOGUCHI YASUYOSHI
分类号 G01R31/26;G01R19/165;G05F1/10;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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