| 发明名称 |
SEMICONDUCTOR DEFECTIVE ANALYTICAL SYSTEM AND SEMICONDUCTOR INSPECTING DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07221156(A) |
申请公布日期 |
1995.08.18 |
| 申请号 |
JP19940009915 |
申请日期 |
1994.01.31 |
| 申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
ISHIHARA KAZUKO;ISHIKAWA SEIJI;SAKATA MASAO;MIYAZAKI ISAO;MIYAMOTO YOSHIYUKI |
| 分类号 |
G01R31/317;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/317 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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