| 发明名称 |
Testing process for electronic devices. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0309109(B1) |
申请公布日期 |
1995.03.15 |
| 申请号 |
EP19880308151 |
申请日期 |
1988.09.02 |
| 申请人 |
AT&T CORP. |
发明人 |
MORAN, JOSEPH MICHAEL;RUSSELL, THOMAS CUTLER |
| 分类号 |
G01R31/02;G01R1/067;H01L21/66;H05K3/00;(IPC1-7):G01R1/067;G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/02 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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