发明名称 TEST CARD FOR INTEGRATED CIRCUITS WHOSE AGE MAY BE OBJECTIVELY DETERMINED
摘要 <p>Eine Vorrichtung, die es ermöglicht, das Alter einer Prüfkarte (P), bezogen auf die tatsächliche Einsatzhäufigkeit, zu ermitteln. Sie weist einen Sensor (2) zwischen einer Trägerkarte (1) und einem Kontaktnadelträger (8) auf, der die mechanische Belastung der Prüfkarte ohne zusätzliche Wechselwirkung zwischen Prüfkarte (P) und Prüfling (10) erfaßt, eine Speichereinheit, die die Signale des Sensors (2) speichert und aufsummiert und zusätzliche Informationen speichern kann, eine Stromquelle, die auf der Prüfkarte angeordnet ist und den Sensor (2) und die Speichereinheit mit Strom versorgt, sowie eine Auswerteelektronik, die die gespeicherten Werte auslesen und verarbeiten kann. Hat die Summe der Einsätze der Prüfkarte einen bestimmten vorgegebenen, empirisch ermittelten Wert erreicht, wird die Prüfkarte ausgetauscht oder überarbeitet. Damit ist es möglich, die Zuverlässigkeit der Messungen wesentlich zu erhöhen. Außerdem kann die Reservemenge von Ersatzprüfkarten auf ein Minimum reduziert werden, da die Einsatzdauer der Prüfkarten auch bei großen und unterschiedlichen Einsatzpausen kalkulierbar wird.</p>
申请公布号 WO1995002830(A1) 申请公布日期 1995.01.26
申请号 EP1994002277 申请日期 1994.07.12
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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