| 发明名称 |
INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE AND SAMPLE OBSERVING METHOD THEREFOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06323834(A) |
申请公布日期 |
1994.11.25 |
| 申请号 |
JP19930135342 |
申请日期 |
1993.05.13 |
| 申请人 |
AGENCY OF IND SCIENCE & TECHNOL |
发明人 |
YAMANAKA ICHIJI;OREGU KOROSOFU;OGISO HISATO;SATO HARUMICHI;KODA TOSHIO |
| 分类号 |
G01B11/30;G01B21/30;G01N37/00;G01Q60/24;G01Q60/26;G01Q60/32;G11B9/14;(IPC1-7):G01B11/30 |
主分类号 |
G01B11/30 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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