发明名称 Multiple detector system for specimen inspection using high energy backscatter electrons.
摘要
申请公布号 EP0443410(B1) 申请公布日期 1994.09.21
申请号 EP19910101923 申请日期 1991.02.12
申请人 INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORPORATION 发明人 HILDENBRAND, WALTER WILLIAM;UTTERBACK, STEVEN GREGG
分类号 H01J37/244;H01J37/28;H01L21/66;(IPC1-7):H01J37/244 主分类号 H01J37/244
代理机构 代理人
主权项
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