| 发明名称 |
SAMPLE ANALYZING METHOD IN ELECTRON PROBE MICRO-ANALYZER |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06168694(A) |
申请公布日期 |
1994.06.14 |
| 申请号 |
JP19920341377 |
申请日期 |
1992.11.27 |
| 申请人 |
JEOL LTD |
发明人 |
SAITO MASAKI;NOTOYA TOMOHITO |
| 分类号 |
H01J37/20;H01J37/22;H01J37/252;(IPC1-7):H01J37/252 |
主分类号 |
H01J37/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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