发明名称 产品质量检查的方法和设备
摘要 本发明是有关一种产品表面上物理特性的检查方法。首先,在产品附近设一个探测器。然后使其中一个探测器和产品绕垂直于产品表面的一个轴线转动,同时由探测器探测产品表面,从而获得一个信号,该信号具有对应于产品表面物理特性的信号峰。接着对信号进行处理,并根据信号峰的数目分析经处理后的信号,从而获取有关产品表面物理特性的信息。此外还提出了一种实施上述方法的检查设备。
申请公布号 CN1024845C 申请公布日期 1994.06.01
申请号 CN90101002.2 申请日期 1990.02.24
申请人 三菱麻铁里亚尔株式会社 发明人 伊藤肇;伊藤厚生;井上羲弘;石崎博
分类号 G01N35/00;B65D17/40 主分类号 G01N35/00
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 张志醒;吴增勇
主权项 1.一种检查产品(1)表面(1a)上附着物(5)的方法,包括下列步骤:(a)在产品(1)附近设置探测装置(12);(b)操纵该探测装置(12)探测产品(1)的表面(1a),使其中一个探测装置(12)和所述产品(1)围绕垂直于该产品(1)表面(1a)的一条轴线转动,由此得到一个有关所述附着物(5)的信号;以及(c)然后再对所述信号进行处理和分析,从而获得有关所述产品(1)表面(1a)上所述附着物(5)的信息;其特征在于:使所述探测装置(12)包括多个探测器(12a,12b),这些探测器配置成能探测所述表面(1a)上的、与垂直于所述产品(1)表面(1a)的所述轴线相距不同距离的诸点;上述操纵步骤(b)包括操作所述多个探测器(12a,12b)去产生一个其峰值相应于所述产品表面(1a)上的附着物(5)的信号;以及,所述操作步骤(c)包括通过比较所述信号峰值彼此位置而获取有关所述产品(1)表面(1a)上的附着物(5)位置的信息。
地址 日本东京都