发明名称 | 产品质量检查的方法和设备 | ||
摘要 | 本发明是有关一种产品表面上物理特性的检查方法。首先,在产品附近设一个探测器。然后使其中一个探测器和产品绕垂直于产品表面的一个轴线转动,同时由探测器探测产品表面,从而获得一个信号,该信号具有对应于产品表面物理特性的信号峰。接着对信号进行处理,并根据信号峰的数目分析经处理后的信号,从而获取有关产品表面物理特性的信息。此外还提出了一种实施上述方法的检查设备。 | ||
申请公布号 | CN1024845C | 申请公布日期 | 1994.06.01 |
申请号 | CN90101002.2 | 申请日期 | 1990.02.24 |
申请人 | 三菱麻铁里亚尔株式会社 | 发明人 | 伊藤肇;伊藤厚生;井上羲弘;石崎博 |
分类号 | G01N35/00;B65D17/40 | 主分类号 | G01N35/00 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张志醒;吴增勇 |
主权项 | 1.一种检查产品(1)表面(1a)上附着物(5)的方法,包括下列步骤:(a)在产品(1)附近设置探测装置(12);(b)操纵该探测装置(12)探测产品(1)的表面(1a),使其中一个探测装置(12)和所述产品(1)围绕垂直于该产品(1)表面(1a)的一条轴线转动,由此得到一个有关所述附着物(5)的信号;以及(c)然后再对所述信号进行处理和分析,从而获得有关所述产品(1)表面(1a)上所述附着物(5)的信息;其特征在于:使所述探测装置(12)包括多个探测器(12a,12b),这些探测器配置成能探测所述表面(1a)上的、与垂直于所述产品(1)表面(1a)的所述轴线相距不同距离的诸点;上述操纵步骤(b)包括操作所述多个探测器(12a,12b)去产生一个其峰值相应于所述产品表面(1a)上的附着物(5)的信号;以及,所述操作步骤(c)包括通过比较所述信号峰值彼此位置而获取有关所述产品(1)表面(1a)上的附着物(5)位置的信息。 | ||
地址 | 日本东京都 |