| 发明名称 |
X-RAY ANALYZING DEVICE AND X-RAY ANALYZING METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06151089(A) |
申请公布日期 |
1994.05.31 |
| 申请号 |
JP19920322319 |
申请日期 |
1992.11.09 |
| 申请人 |
RIGAKU CORP;NATL RES INST FOR METALS |
发明人 |
SAKURAI KENJI;SAKURAI HITOSHI |
| 分类号 |
H05G1/34;G01N23/087;(IPC1-7):H05G1/34 |
主分类号 |
H05G1/34 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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