| 发明名称 |
CLASSIFICATION OF TESTED IC ELEMENT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06148273(A) |
申请公布日期 |
1994.05.27 |
| 申请号 |
JP19920294967 |
申请日期 |
1992.11.04 |
| 申请人 |
ADVANTEST CORP |
发明人 |
SAKAUCHI KUNIAKI;BABA MINORU |
| 分类号 |
G01R31/26;H01L21/677;H01L21/68;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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