发明名称 |
SEMICONDUCTOR WAFER TEST EQUIPMENT WITH TEST SIGNAL CHECK BOARD |
摘要 |
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申请公布号 |
KR940002455(Y1) |
申请公布日期 |
1994.04.15 |
申请号 |
KR19910015026U |
申请日期 |
1991.09.14 |
申请人 |
GOLDSTAR ELECTRON CO., LTD. |
发明人 |
SHIN, HYON - DAE |
分类号 |
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66 |
主分类号 |
H01L21/66 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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