| 发明名称 |
Apparatus for characterising dielectric properties of samples of materials, having an even or uneven surface, and application to the non-destructive control of the dielectric homogeneity of said samples. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0418117(B1) |
申请公布日期 |
1994.04.06 |
| 申请号 |
EP19900402421 |
申请日期 |
1990.09.03 |
| 申请人 |
AEROSPATIALE SOCIETE NATIONALE INDUSTRIELLE |
发明人 |
LAHITTE, PIERRE;VILLERS, SERGE, AVENUE DU PRESIDENT R. SCHUMANN |
| 分类号 |
G01N22/00;G01R27/26;(IPC1-7):G01N22/00 |
主分类号 |
G01N22/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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