| 发明名称 |
DEVICE TO MEASURE SPECIFIC RESISTANCE OF SEMICONDUCTOR MATERIALS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
RU2010256(C1) |
申请公布日期 |
1994.03.30 |
| 申请号 |
SU19915019848 |
申请日期 |
1991.11.18 |
| 申请人 |
FILIAL INSTITUTA KRISTALLOGRAFII RAN |
发明人 |
VLASOV VIKTOR N;KRUPNYJ ANATOLIJ I |
| 分类号 |
G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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