发明名称 CHECKING METHOD OF EXTERNAL APPEARANCE OF SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号 JPH063120(A) 申请公布日期 1994.01.11
申请号 JP19920157987 申请日期 1992.06.17
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 KIMURA YORIAKI
分类号 G01B11/24;G01N21/84;H01L21/66;H04N7/18;(IPC1-7):G01B11/24 主分类号 G01B11/24
代理机构 代理人
主权项
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