| 发明名称 |
(A) ;PROBE OF INTERATOMIC FORCE MICROSCOPE FOR SCANNING TYPE TUNNEL ELECTRON MICROSCOPE |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH0587559(B2) |
申请公布日期 |
1993.12.17 |
| 申请号 |
JP19900257569 |
申请日期 |
1990.09.28 |
| 申请人 |
INTAANASHONARU BIJINESU MASHIINZU CORP |
发明人 |
RICHAADO RAIONERU BURATSUDOSHOO |
| 分类号 |
C11D1/72;C11D1/74;C11D3/10;G11B23/50;(IPC1-7):C11D1/72 |
主分类号 |
C11D1/72 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
