发明名称 CIRCUITO SEMICONDUCTOR INTEGRADO PARA MEDIDAS TERMICAS.
摘要 CIRCUITO SEMICONDUCTOR INTEGRADO PARA MEDICIONES TERMICAS, COMPRENDIENDO POR LO MENOS UN DETECTOR DE CORRIENTE TERMICA O TEMPERATURA Y UN COMPARADOR (8) DE SEÑALES, ESTANDO PROVISTO EL COMPARADOR (8) CON UN BUCLE DE REALIMENTACION DE SEÑALES QUE CONTIENE UN CONVERSOR (3) DE SEÑALES DA, MAS ESPECIFICAMENTE, EL COMPARADOR (8) SIENDO UN COMPARADOR DE CORRIENTE TERMICA O TEMPERATURA, COMPRENDIENDO EL CONVERSOR DE SEÑALES DA (3) UNA POTENCIA DISPONIBLE Y EL BUCLE DE REALIMENTACION DE SEÑALES COMPRENDIENDO COMPONENTES PARA LA TRANSFERENCIA DE SEÑALES TERMICAS.
申请公布号 ES2043252(T3) 申请公布日期 1993.12.16
申请号 ES19900201455T 申请日期 1990.06.07
申请人 BRONKHORST HIGH-TECH B.V. 发明人 HUIJSING, JOHAN HENDRIK;RIEDIJK, FRANK ROBERT
分类号 G01K7/00;G01F1/68;G01F1/696;G01F1/698;G01K17/04;G01L21/10;G01N25/20;G08C13/00;(IPC1-7):G01K17/04 主分类号 G01K7/00
代理机构 代理人
主权项
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