发明名称 激光外差共路干涉方法及其光学系统
摘要 本发明涉及一种测量物体超光滑表面的粗糙度、微细表面轮廓、微小位移、微小变形的装置及方法,是对激光外差干涉方法及系统的改进。本发明的共路干涉系统由光源12、接收器2、接收器11、分束器1,偏振分束器3,多面反射棱镜5、偏振分束器7、波片9、透镜10、透镜8、反射棱镜6,多面反射棱镜4组成。本发明具有共路干涉系统,使得参考光束和测量光束在同一个光路中互逆行进,由接收器11干涉产生测量信号,使光学系统具有稳定度和精度高,对使用环境要求低,抗干扰能力强,使用方便。
申请公布号 CN1079055A 申请公布日期 1993.12.01
申请号 CN92103398.2 申请日期 1992.05.16
申请人 中国科学院长春光学精密机械研究所 发明人 韩昌元;顾去吾;卢振武;刘斌
分类号 G02B27/00;G01B11/30 主分类号 G02B27/00
代理机构 中国科学院长春专利事务所 代理人 梁爱荣
主权项 1、一种用于测量物体表面粗糙度、微细表面轮廓、微小振动,微小位移、微小变形的共路干涉方法,采用光源12的光束射入光学系统中,经分束器1部分反射到接收器2作为参考信号,并部分透射产生测量信号,其特征在于:在同一个光路中产生参考光束和测量光束,两个光束由接收器11接收并产生测量信号,(1)光源12的平行和垂直于纸面方向振动的线偏振光束通过分束器1透射,由偏振分束器3分别透过和反射,其光束走向为:(2.1)偏振分束器3使光源12的平行于纸面方向振动的线偏振光束透射,经多面反射棱镜5,透过偏振分束器7,再经波片9,由透镜10会聚到被测物体表面的一点上,然后由透镜10自准返回,再经波片9变成垂直于纸面方向振动的线偏振光,而由偏振分束器7反射投向透镜8,由透镜8会聚到反射棱镜6的反射面的f1点,然后经由多面反射棱镜4和偏振分束器3及分束器1反射射向接收器11而成为测量光束。(2.2)偏振分束器3使光源12的垂直于纸面方向振动的线偏振光束反射,经多面反射棱镜4和反射棱镜6投向透镜8,由透镜8会聚到偏振分束器7反射面的f2点,再经偏振分束器7反射和透过波片9后,由透镜10透射成为平行光束而垂直地投向被测物体表面,再由被测物体表面自准返回,经透镜10、波片9会聚到偏振分束器7反射面的f2点,变成平行于纸面方向的线偏振光束,因而透过偏振分束器7,再由多面反射棱镜5反射和透过偏振分束器3,然后由分束器1反射射向接收器11而产生参考光束。
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