发明名称 PATTERN INSPECTION SYSTEM
摘要
申请公布号 EP0246145(B1) 申请公布日期 1993.07.28
申请号 EP19870401052 申请日期 1987.05.07
申请人 FUJITSU LIMITED 发明人 IWATA, SATOSHI;ANDO, MORITOSHI
分类号 G01N21/956;G06T7/00 主分类号 G01N21/956
代理机构 代理人
主权项
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