SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND SOLID-STATE IMAGING ELEMENT USED THEREFOR

摘要

Dispositif à semi-conducteurs de formation d'image dans lequel les signaux d'image provenant d'un capteur CCD sont échantillonnés en fonction d'impulsions d'échantillonnage dans un circuit d'échantillonnage, les signaux d'image échantillonnés sont envoyés à un circuit convertisseur A/N via un circuit de traitement de signaux analogiques qui introduit un retard, et sont convertis en signaux d'image numériques en synchronisme avec les impulsions d'échantillonnage pour la conversion A/N. Dans ce dispositif, un signal de test qui change en alternance entre un niveau blanc et un niveau noir est produit pendant une période de suppression de lignes ou une période de suppression de trames des signaux d'image provenant du capteur CCD, le signal de test est échantillonné dans le circuit d'échantillonnage et converti en signal de test numérique par un circuit convertisseur A/N, une valeur intégrée de valeurs absolues de différences des signaux de test numériques consécutifs est déterminée, et la phase des impulsions d'échantillonnage pour la conversion A/N est ajustée par un circuit de réglage automatique de phase, de sorte que la valeur intégrée atteigne un maximum. Cet agencement permet d'ajuster aisément et correctement la phase des impulsions d'échantillonnnage pour la conversion A/N afin d'injecter les signaux d'image provenant du capteur CCD dans l'unité de conversion A/N à un instant optimal.