发明名称 METHOD OF PREPARING SILICON SPECIMEN FOR DETERMINING FLAWS OF STRUCTURE
摘要
申请公布号 RU1800309(C) 申请公布日期 1993.03.07
申请号 SU19904885843 申请日期 1990.11.29
申请人 NII PRIKLADNYKH FIZICHESKIKH PROBLEM IM.A.N.SEVCHENKO 发明人 ASHKINADZE SERGEJ D,SU;SOLOVEV VALERIJ S,SU;TIKAVYJ IGOR V,SU
分类号 G01N1/28;G01N1/32;H01L21/66 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人
主权项
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