| 摘要 |
<p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur automatischen Partikelgrößenanalyse eines Partikelgemisches insbesondere zur steuerungstechnischen Beeinflussung der Herstellung und Verarbeitung eines solchen. Mittels bekannter zeilenweiser optoelektronischer Abtastung eines vereinzelten Partikelstromes, dem Registrieren von Sehnenlängen und Zuordnen zu bestimmten Sehnenklassen wird erfindungsgemäß der Partikelstrom durch Schwerkraft oder zusätzliche Kräfte an der optoelektronischen Meßstrecke senkrecht zu parallel gerichteten Lichtstrahlen vorbeibewegt. Die Belichtungszeit eines Scans ist kleiner dmin/(2*vmin) und der zeitliche Abstand zwischen zwei Scans kann größer als dmin/vmin sein. Für jede zu analysierende Partikelgröße ist die Wahrscheinlichkeit für das Auftreten einer Sehne in einer bestimmten Sehnenklasse berechenbar oder bekannt. Es kann somit beginnend mit der größten Partikelklasse rücklaufend bis zur kleinsten, die Anzahl der Partikel ermittelt werden, wobei nach jeder berechneten Partikelanzahl einer bestimmten Größe die Sehnenlängenverteilung entsprechend der zu diesen Partikeln gehörenden Sehnen korrigiert werden muß. <IMAGE></p> |
