发明名称 TEST CIRCUIT FOR A SENSOR
摘要 <p>Die Erfindung betrifft eine Schaltung zum Prüfen des Funktionszustandes oder Status eines Sensors. Der Sensor kann entweder funktionsfähig sein, oder er kann ein fehlerhaftes Signal ausgeben, was insbesondere durch einen Schluss gegen Masse, einen Schluss gegen die Versorgungsspannung oder durch eine Unterbrechung bedingt ist. Besonders wichtig ist selbttätige Statuserkennung für solche Sensoren, die nur in grösseren Zeitabständen beobachtet und kontrolliert werden können oder die ihre Signale vollautomatisch arbeitenden Einrichtungen zuführen. In solchen Fällen ist es üblich, Betriebsparameter laufend zu kontrollieren und binäre Statussignale auszugeben. Beim Überprüfen der Funktionsfähigkeit eines Sensors ist es erwünscht, unterschiedliche Funktionszustände auf möglichst einfache Art erkennen zu können. Es bestand demgemäss das Problem, eine Prüfschaltung für einen Sensor anzugeben, die unterschiedliche Funktionszustände auf einfache Art unterscheidbar macht.</p>
申请公布号 WO1992021985(A1) 申请公布日期 1992.12.10
申请号 DE1992000327 申请日期 1992.04.24
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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