发明名称 TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH04346084(A) 申请公布日期 1992.12.01
申请号 JP19910117761 申请日期 1991.05.23
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 OI MASUMI
分类号 G01R31/316;G01R31/28 主分类号 G01R31/316
代理机构 代理人
主权项
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