发明名称 METHOD OF AND APPARATUS FOR MEASURING PATTERN PROFILE
摘要
申请公布号 US5161201(A) 申请公布日期 1992.11.03
申请号 US19910651796 申请日期 1991.02.07
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA 发明人 KAGA, YASUHIRO;HATTORI, KEI;HASEGAWA, ISAHIRO;KOMATSU, FUMIO
分类号 G01Q30/02;G01B15/00;G01Q30/04 主分类号 G01Q30/02
代理机构 代理人
主权项
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