发明名称 用光学手段对片状元件进行外观检验并对所检验的片状元件进行分类的方法和装置
摘要 本发明为一种用光学手段对片子进行外观检验并对所述片子分类的方法,包含下列步骤:把片子送上片子传送体,使所述片子传送体上沿一预定方向移动:当片子在传送体上移动时,使片子彼此分开一个接一个地停在两个预定的检验位置的每一个上:使光线直射和斜射到位于上述预定检验位置之一的一个片子上,用二个电视摄象机将上述片子的光学图象以视频信号的形式采集下来并进行检验和分类。
申请公布号 CN1018799B 申请公布日期 1992.10.28
申请号 CN89102024.1 申请日期 1989.02.28
申请人 TDK株式会社 发明人 水野亨;北岛保彦
分类号 B07C5/02;G01B11/30;G01N21/88 主分类号 B07C5/02
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人 范本国
主权项 1.一种用光学手段对片状元件进行外观检验并对所检验的片状元件进行分类的方法,其步骤包括:(a)、把片状元件送上片子传送装置,使所述片状元件在所述片子传送装置上沿预定方向移动;(b)、使光线射到一个片状元件上,用第一电视摄象机将所述的片状元件的光学图象以视频信号的形式采集起来;(c)、将所述的视频信号送至图象处理部,在所述图象处理部中处理所述的视频信号并获得有关所述的片状元件的外观的数据,根据上述数据检查所述片子的外观是合格还是有缺陷;(d)、对片状元件进行分类;其特征在于:上述的方法还包括下列步骤:使上述片状元件各自分离,从而使上述的片状元件在上述的片子传送装置上运行期间在二个预定的检查位置的每一个上一一停住,对上述的片状的元件的各自分离通过一个分离机构来进行;上述的步骤(b)包括:使光线直射和斜射到位于上述的预定检验位置之一的一个片状元件上,以视频信号的形式采集其相对的表面被直射光和斜射光照射的上述片状元件的底表面和与顶表
地址 日本东京都