首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
SWITCH OPENING/CLOSING ACTION DETECTOR
摘要
申请公布号
JPH04192001(A)
申请公布日期
1992.07.10
申请号
JP19900324333
申请日期
1990.11.27
申请人
TOSHIBA CORP
发明人
SHIRAKAWA HIROSHI
分类号
G05B15/02;G05B19/05
主分类号
G05B15/02
代理机构
代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
КОНТЕЙНЕР С ПОВТОРНО-БЛОКИРУЕМОЙ ЗАЩИТНОЙ КРЫШКОЙ С УПРУГИМ КОЛЬЦОМ
ДВОЙНОЙ ШАРНИР РАМЫ СЕЛЬСКОХОЗЯЙСТВЕННОГО РАБОЧЕГО ОБОРУДОВАНИЯ
СПОСОБ ВЫБОРА ИЗ МНОЖЕСТВА МЕТОДИК ОЦЕНКИ КАНАЛА И РАДИОПРИЕМНИК
НОВЫЙ СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ДРОНЕДАРОНА
КОМБИНИРОВАННЫЙ ПРЕПАРАТ, ВКЛЮЧАЮЩИЙ КОРТИКОСТЕРОИД И ЭКЗОСОМЫ
КОМБИНИРОВАННЫЕ ПРЕПАРАТЫ С АНТАГОНИСТОМ ЦИТОКИНА И КОРТИКОСТЕРОИДОМ
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ЭНЕРГИИ ЭКЗОТЕРМИЧЕСКИМ ПРОТОННЫМ ДЕЛЕНИЕМ НЕКОТОРЫХ ХИМИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ, ПРИМЕНЕНИЕ ВЕЩЕСТВА ДЛЯ СПОСОБА ПОЛУЧЕНИЯ ЭНЕРГИИ ЭКЗОТЕРМИЧЕСКИМ ПРОТОННЫМ ДЕЛЕНИЕМ, СПОСОБ МАГНИТОГИДРОДИНАМИЧЕСКОЙ ГЕНЕРАЦИИ ПЕРЕМЕННОГО ТОКА ПРОМЫШЛЕННОЙ ЧАСТОТЫ ДЛЯ СПОСОБА ПОЛУЧЕНИЯ ЭНЕРГИИ ЭКЗОТЕРМИЧЕСКИМ ПРОТОННЫМ ДЕЛЕНИЕМ (ВАРИАНТЫ)
ПРОИЗВОДНЫЕ 4-(АЗАЦИКЛОАЛКИЛ)-БЕНЗОЛ-1,3-ДИОЛА В КАЧЕСТВЕ ИНГИБИТОРОВ ТИРОЗИНАЗЫ, ИХ СИНТЕЗ И ПРИМЕНЕНИЕ
ФОТОРАЗЛАГАЕМЫЕ ПЛЕНКИ С ХОРОШИМИ ПОКАЗАТЕЛЯМИ ПРОЧНОСТНЫХ СВОЙСТВ ПРИ РАСТЯЖЕНИИ И УДАРЕ
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ БЕЗОБОЛОЧЕЧНОЙ ПУЛИ ДЛЯ НАРЕЗНОГО ОРУЖИЯ НА ОПЕРАЦИОННОМ СТАНКЕ
СПОСОБ ОРИЕНТАЦИИ КОСМИЧЕСКОГО АППАРАТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ
СПОСОБ БОРЬБЫ С ИМПУЛЬСНЫМИ ПОМЕХАМИ НА ОСНОВЕ ИХ ЛОКАЛИЗАЦИИ С ПРИМЕНЕНИЕМ MIN-MAX ПОРОГА В АДАПТИВНЫХ СИСТЕМАХ ПРИЕМА РАДИОСИГНАЛОВ
СПОСОБ И СИСТЕМА НАБЛЮДЕНИЯ ЗА НАЗЕМНЫМ ДВИЖЕНИЕМ ПОДВИЖНЫХ ОБЪЕКТОВ В ПРЕДЕЛАХ УСТАНОВЛЕННОЙ ЗОНЫ АЭРОДРОМА
ГАЛОГЕНИРОВАННЫЕ ПРОИЗВОДНЫЕ FTY720
СПОСОБ РЕАБИЛИТАЦИИ ДЕТЕЙ РАННЕГО ВОЗРАСТА С ПОСЛЕДСТВИЯМИ ПЕРИНАТАЛЬНОГО ПОРАЖЕНИЯ ЦЕНТРАЛЬНОЙ НЕРВНОЙ СИСТЕМЫ
КОМБИНИРОВАННАЯ ТЕРАПИЯ ДЛЯ ЛЕЧЕНИЯ РАКА И ДИАГНОСТИЧЕСКИЕ АНАЛИЗЫ, ИСПОЛЬЗУЕМЫЕ В КОМБИНИРОВАННОЙ ТЕРАПИИ
ОСНОВАННЫЙ НА ДВИЖЕНИИ АТТРАКЦИОН С УЗЛОМ ОТОБРАЖЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ
LOWER SUPPORT OF INFORMATION ELEMENT OF DEMONSTRATION PLANT
SINGLE-MODE DOUBLE-LAYER CRYSTALLINE INFRARED LIGHT-GUIDE
METHOD FOR DETERMINATION OF HEAT-TRANSFER RESISTANCE FOR DIGITAL CMOS INTEGRATED CIRCUITS