发明名称 METHOD OF DETERMINING ELECTRICALLY ACTIVE DOPANTS IN SEMICONDUCTOR JUNCTION STRUCTURES
摘要
申请公布号 SU1669407(A3) 申请公布日期 1991.08.07
申请号 SU19874203877 申请日期 1987.11.16
申请人 MADYAR TUDOMANOSH AKADEMIA MYUSAKI FIZ KUTATO INTEZET (INOPREDPRIYATIE);DR.VOLFGANG YANCH (FIRMA) 发明人 VOLFGANT YANCH,AT;DERD FERENTSI,HU
分类号 G01N25/00;G01N22/00;H01L21/66 主分类号 G01N25/00
代理机构 代理人
主权项
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