发明名称 TESTING DEVICE FOR LOGIC INTEGRATED CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH026759(A) 申请公布日期 1990.01.10
申请号 JP19880157398 申请日期 1988.06.25
申请人 NEC CORP 发明人 TANAKA SADAAKI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/317 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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