发明名称 |
MANUFACTURE OF PROBE HEAD FOR SEMICONDUCTOR LSI INSPECTING DEVICE |
摘要 |
|
申请公布号 |
JPH01141379(A) |
申请公布日期 |
1989.06.02 |
申请号 |
JP19870297752 |
申请日期 |
1987.11.27 |
申请人 |
HITACHI LTD |
发明人 |
OKINO HIRONOBU;FUJIWARA AKIO;AKIBA YUTAKA;KASUKABE SUSUMU;MITANI MASAO |
分类号 |
G01R31/26;G01R1/073;G01R31/28;H01L21/66 |
主分类号 |
G01R31/26 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|