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经营范围
发明名称
MEMORY TEST CIRCUIT AND METHOD
摘要
申请公布号
KR100754256(B1)
申请公布日期
2007.09.03
申请号
KR20050093200
申请日期
2005.10.05
申请人
发明人
分类号
G01R31/26;G01R31/28;G11C29/00
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
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