DISPOSITIF DE MESURE, EN UNE PLURALITE DE POINTS, DU CHAMP MICRO-ONDE DIFFRACTE PAR UN OBJET

摘要

UNE SOURCE 2 DE RAYONNEMENT MICRO-ONDE ILLUMINE UN OBJET 1. DES ANTENNES DOUBLETS ELECTRIQUES 3 CHARGEES PAR DES DIODES 4 SONT DISPOSEES EN LIGNE SUR LE TRAJET DU RAYONNEMENT DIFFRACTE PAR L'OBJET 1. UNE STRUCTURE DE GUIDAGE 5, POURVUE D'ANTENNES DE COUPLAGE 55 EST DISPOSEE LE LONG DE LA LIGNE D'ANTENNES DOUBLETS 3, ET COLLECTE LE RAYONNEMENT DIFFRACTE. DES CIRCUITS ELECTRONIQUES 6, 7, 8 COMMANDENT L'ENSEMBLE POUR MESURER LE CHAMP DIFFRACTE A L'EMPLACEMENT DE CHAQUE ANTENNE DOUBLET 3.

LE DISPOSITIF S'APPLIQUE AU CONTROLE NON-DESTRUCTIF D'OBJETS, DE MATERIAUX OU DE PRODUITS INDUSTRIELS EN DEFILEMENT, PAR EXEMPLE, AINSI QU'AUX TESTS DE SYSTEMES RAYONNANTS.