发明名称 Process for manufacturing a high-voltage resistant PN junction.
摘要 Verfahren zur Herstellung eines pn-Übergangs (11) hoher Spannungsfestigkeit, der einen Halbleiterkörper (1) eines ersten Leitungstyps von einem in diesen eingefügten Halbleitergebiet (10) eines zweiten Leitungstyps trennt. Hierbei wird ein zur Herstellung des Halbleitergebiets (10) dienender Dotierstoff durch eine Grenzfläche (1a) des Halbleiterkörpers (1) in eine oberflächenseitige Zone (2) desselben eingebracht und durch einen Temperschritt tiefer eingetrieben. Zur Erzielung einer allmählichen Annäherung des pn-Übergangs (11) an die Grenzfläche (1a) wird die Zone (2) vor dem Temperschritt durch einen maskierten Ätzvorgang mit einer oder mehreren streifenförmigen Ausnehmungen (4 bis 7) versehen, die entlang der lateralen Begrenzung der Zone (2) oder jeweils in einem etwa konstanten Abstand zu ihr verlaufen.
申请公布号 EP0262356(A2) 申请公布日期 1988.04.06
申请号 EP19870111702 申请日期 1987.08.12
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN 发明人 KUHNERT, REINHOLD, DR. DIPL.-PHYS.;SCHULZE, HANS-JOACHIM, DR. DIPL.-PHYS.
分类号 H01L21/033;H01L21/225;H01L29/06;H01L29/74 主分类号 H01L21/033
代理机构 代理人
主权项
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