发明名称 DEVICE FOR CONDITION INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICES BY THEIR NOISE PROPERTIES
摘要
申请公布号 SU1236929(A1) 申请公布日期 1988.03.23
申请号 SU19833624947 申请日期 1983.07.15
申请人 RIZHSKIJ POLT I IM.A.YA.PELSHE 发明人 UMBLIJS A.A.,SU;SLAJDINSH I.YA.,SU
分类号 G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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