发明名称 ELECTRON-BEAM PROBING OF PHOTODIODES
摘要 <p>Procédé et dispositif d'essai de réseaux de photodiodes utilisant un faisceau d'électrons. Les diodes sont chargées à des intervalles successifs en suivant la courbe de constante de temps RC pour développer des tensions s'accroissant graduellement à la fin des intervalles de temps successifs. La tension et le courant de la diode sont mesurés à la fin de chaque intervalle et les données résultantes sont utilisées pour développer une caractéristique courant-tension pour chaque diode.</p>
申请公布号 WO8707731(A1) 申请公布日期 1987.12.17
申请号 WO1987US00943 申请日期 1987.04.27
申请人 SANTA BARBARA RESEARCH CENTER 发明人 BURGETT, CHARLEY, B.;JOYCE, RICHARD, J.;KASAI, ICHIRO;OSGOOD, RODERIC, L.;WARFIELD, MICHAEL, D.
分类号 G01R31/26;G01R31/265;G01R31/28;G01R31/302;G01R31/305;H01L21/66;H01L31/10;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
地址