BUILT-IN SELF-TEST SYSTEM FOR VLSI CIRCUIT CHIPS.

摘要

Un système (10) d'auto-contrôle incorporé dans une plaquette de circuits logiques (12) intégrés à grande échelle (LSI) pour effectuer des tests dynamiques du fonctionnement de la fonction logique principale (14) comprend un registre de commande (32) contenant une série de bascules statiques (150) connectées pour le transfert en série de données de contrôle et pour produire des signaux de commande du système de contrôle. Un registre d'entrée à décalage (36) connecté au registre de commande (32) pour effectuer le transfert en série de données de contrôle et à la fonction logique principale (14) pour effectuer le transfert en parallèle de données de contrôle est formé d'un agencement en série de bascules statiques. Un registre de sortie (38) connecté au registre d'entrée (36) pour effectuer le transfert en série de données de contrôle et à la fonction logique principale (14) pour effectuer le transfert en parallèle de données de contrôle est formé d'un agencement en série de bascules statiques (182). Un signal de validation et de synchronisation de contrôle est bloqué par une bascule (78) de validation et de synchronisation de contrôle et déclenché par un signal de synchronisation du système pour produire des signaux de synchronisation des registres d'entrée et de sortie. Un signal d'échantillonnage de contrôle est bloqué par une bascule d'échantillonnage de contrôle (76) et échantillonné par une bascule (80) et sert de signal de validation du registre de contrôle. Le signal bloqué d'échantillonnage de contrôle et le signal bloqué de validation et de synchronisation de contrôle sont déclenchés par le signal de synchronisation du système et servent de signal de synchronisation du registre de commande. Un multiplexeur (40) de sortie des données de contrôle décode un signal de sélection de contrôle généré par le registre de commande et fournit les données de contrôle ainsi représentées à une broche (60) de sortie de données de contrôle.