发明名称 | 测定聚合物固化程度的无损检验方法 | ||
摘要 | 一种测定聚合物固化程度的无损检验方法,例如:通过对荧光团的荧光测量,测量出加进聚合物系统中的荧光团的自由空间旋转程度,以此为基础测定聚合物膜的固化程度。这个结果能够用于在线控制聚合物的聚合程度。 | ||
申请公布号 | CN86103711A | 申请公布日期 | 1987.05.13 |
申请号 | CN86103711 | 申请日期 | 1986.06.02 |
申请人 | 美国电话电报公司 | 发明人 | 约瑟·阿尔伯托·奥斯;苏萨尼·弗朗希斯·斯卡拉塔 |
分类号 | G01N21/00;G01N21/62;G01N21/86 | 主分类号 | G01N21/00 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人 | 王以平 |
主权项 | 1、一种对含有荧光团的聚合物系统测量固化程度的无损检验方法,其特征在于:a)用线性或平面偏振光激发聚合物体中的荧光团,b)在相对于激发发射光的两个预定角度上收集从荧光团发出的荧光,c)将在两个收集角度所得的相应的荧光进行比较,以便确定聚合物中荧光团的极化或异向程度。 | ||
地址 | 美国纽约州 |