| 发明名称 | 分析测定有机物质的方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及用质量分析测定低浓度有机物质的方法，此法需将有机物质从高压存贮容器送至低压质谱仪中。本发明的目的是研制一种方法和装置，使ppb至ppt级的有机物质能直接用质量分析的方法进行检测。解决的办法是：a)通过剂量控制装置将存贮器与质谱仪直接相连；b)将质谱仪抽真空至正常工作气压，以减低有机物质的浓度；c)以更高的灵敏度检测有机物质。本发明特别适于测定易挥发有机化合物的光稳定性(例如环境化学剂的浓度-时间图、半衰期、反应速率常数)等。 | ||
| 申请公布号 | CN86102624A | 申请公布日期 | 1987.04.08 |
| 申请号 | CN86102624 | 申请日期 | 1986.03.20 |
| 申请人 | 库尔斯顿国际公司;光线和环境研究有限公司 | 发明人 | 弗里德海尔姆·科特;阿麦特·哈鲁恩·帕拉;弗里德里克·库尔斯顿 |
| 分类号 | G01N30/72;G01N30/00 | 主分类号 | G01N30/72 |
| 代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人 | 徐汝巽;刘梦梅 |
| 主权项 | 1、用质量分析方法分析测定低浓度有机物质的一种方法，该方法需将有机物质从高压存贮容器传送到气压较低的质谱仪中去，其特征在于：a)存贮容器(4)通过剂量控制装置(18-20)直接与质谱仪(13)连接；b)将质谱仪(13)抽空到低于其正常工作条件的气压范围，从而减低有机物质之浓度；c)以更高的灵敏度检测有机物质。 | ||
| 地址 | 美国纽约州12208 | ||