发明名称 半導体集積回路の検証装置、半導体集積回路の検証方法、及び、プログラム
摘要 The verification apparatus for a semiconductor integrated circuit verifies a logic equivalence before and after modification to the circuit by replacing a memory with a divisional memory model that agrees with the memory in number of input and output pins and verifying logics at an input and an output thereof.
申请公布号 JP5944358(B2) 申请公布日期 2016.07.05
申请号 JP20130187085 申请日期 2013.09.10
申请人 株式会社東芝 发明人 河 邉 直 之;内 海 哲 章
分类号 G06F17/50;G01R31/28 主分类号 G06F17/50
代理机构 代理人
主权项
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