发明名称 用放射线分析测定物组分的方法
摘要 本发明涉及非破坏性分析测定物的物质构成和组分的方法。用任意的放射线对由多种元素或物质构成的测定物进行照射,让透射测定物的透射线对准多个单晶体,取出多种具有特定能量的透射线,并能根据测定物的厚度和组成元素自由地改变取出的透射线能量,用放射线检测装置分析这些透射线,据此对测定物中各构成元素的组分进行分析,不仅分析精高度,而且确保分析操作容易,所需成本低。
申请公布号 CN85107357A 申请公布日期 1986.10.15
申请号 CN85107357 申请日期 1985.09.28
申请人 古河电气工业有限公司 发明人 田村顺一;原亮一;安倍文彦;小相沢久
分类号 G01N23/02 主分类号 G01N23/02
代理机构 上海专利事务所 代理人 王树俦
主权项 1、一种用放射线来分析被测光学纤维基材料的方法,其包括以下步骤:用放射线发生装置产生的放射线照射到包含多种元素或物质组成的组份上,由基材料上发射的透射线射到多个单晶体,产生几种特定能量的透射线,并用放射线检测装置测定该放射线,以分析上述基材料组成元素的组份。
地址 日本东京都千代田区丸内二丁目6番1号