发明名称 | 制造半导体集成电路器件的方法 | ||
摘要 | 在一个共用的工序中形成了P和N沟道MOS场效应晶体管的P和N型源或漏区的一些接触孔以后,通过这些接触孔至少在N型源或漏区以离子注入法注入一种N型杂质。把此N型杂质退火以形成一个比N型源或漏区为深的N型区。在退火处理期间,以一层绝缘薄膜覆盖住此N型源或漏区。 | ||
申请公布号 | CN85109742A | 申请公布日期 | 1986.07.09 |
申请号 | CN85109742 | 申请日期 | 1985.11.22 |
申请人 | 株式会社日立制作所 | 发明人 | 池田修二;长泽幸一;元吉真;永井清;目黑怜 |
分类号 | H01L21/72;H01L27/04 | 主分类号 | H01L21/72 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人 | 郁玉成 |
主权项 | 1、一种制造半导体集成电路器件的方法,它包括:(a).在一半导体基片上形成N沟道MOS场效应晶体管以及P沟道MOS场效应晶体管的工序,所说N沟道MOS场效应晶体管有一个N型半导体区域,而所说P沟道MOS场效应晶体管有一个P型半导体区域;(b).形成一层用来覆盖所说那些MOS场效应晶体管的绝缘薄膜的工序;(c).形成在所说绝缘薄膜内的一些接触孔的工序,在所说N和P型半导体区域上至少各自形成有所说这些接触孔中的一个孔,以及(d).通过所说接触孔,至少在所说的N型半导体区域注入一种N型杂质的离子注入工序。 | ||
地址 | 日本东京都 |