发明名称 制造半导体集成电路器件的方法
摘要 在一个共用的工序中形成了P和N沟道MOS场效应晶体管的P和N型源或漏区的一些接触孔以后,通过这些接触孔至少在N型源或漏区以离子注入法注入一种N型杂质。把此N型杂质退火以形成一个比N型源或漏区为深的N型区。在退火处理期间,以一层绝缘薄膜覆盖住此N型源或漏区。
申请公布号 CN85109742A 申请公布日期 1986.07.09
申请号 CN85109742 申请日期 1985.11.22
申请人 株式会社日立制作所 发明人 池田修二;长泽幸一;元吉真;永井清;目黑怜
分类号 H01L21/72;H01L27/04 主分类号 H01L21/72
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利代理部 代理人 郁玉成
主权项 1、一种制造半导体集成电路器件的方法,它包括:(a).在一半导体基片上形成N沟道MOS场效应晶体管以及P沟道MOS场效应晶体管的工序,所说N沟道MOS场效应晶体管有一个N型半导体区域,而所说P沟道MOS场效应晶体管有一个P型半导体区域;(b).形成一层用来覆盖所说那些MOS场效应晶体管的绝缘薄膜的工序;(c).形成在所说绝缘薄膜内的一些接触孔的工序,在所说N和P型半导体区域上至少各自形成有所说这些接触孔中的一个孔,以及(d).通过所说接触孔,至少在所说的N型半导体区域注入一种N型杂质的离子注入工序。
地址 日本东京都