发明名称 X-ray spectrometer/defraction analyser
摘要 By exchanging or combining the modules of the X-ray spectrometers and X-ray defraction analysers, it becomes possible to use one X-ray apparatus to carry out sequential or simultaneous X-ray fluorescence analyses and X-ray defraction analyses.
申请公布号 DE3438637(A1) 申请公布日期 1986.05.15
申请号 DE19843438637 申请日期 1984.10.22
申请人 SIEMENS AG, 1000 BERLIN UND 8000 MUENCHEN, DE 发明人 KRAEFT, UWE, DIPL.-MIN., 6906 LEIMEN, DE
分类号 G01N23/207;G01N23/223;(IPC1-7):G01N23/223;G05G1/00;G01N23/20 主分类号 G01N23/207
代理机构 代理人
主权项
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