发明名称 |
ACTIVE LEAKAGE RESISTANCE CONTROL TO IMPROVE NUMERICAL CONVERGENCE IN AN ELECTRONIC CIRCUIT SIMULATOR WHICH SEEKS CIRCUIT SOLUTIONS ITERATIVELY. |
摘要 |
On améliore le fonctionnement d'un simulateur de circuit électronique en commandant activement les valeurs de résistance à la fuite de test aux jonctions (12) de dispositifs actifs tout en recherchant des solutions de circuit stable d'un ensemble de circuit modélisé. En choisissant une valeur de résistance à la fuite de jonctions initiales inférieure à la valeur effective dans chaque dispositif actif en train d'être modélisé, il est possible d'obtenir aisément des solutions de circuit convergent qui peuvent à leur tour être utilisées en tant que conditions initiales afin d'effectuer la solution de circuit pour le circuit réel avec une amélioration significative de l'efficacité. |
申请公布号 |
EP0177572(A1) |
申请公布日期 |
1986.04.16 |
申请号 |
EP19850901811 |
申请日期 |
1985.03.19 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES, INC. |
发明人 |
WANG, SANG, S.;FANG, SHENG;BURKHARDT, ROBERT, JOHN |
分类号 |
G06F19/00;G06F17/50;(IPC1-7):G06G7/48 |
主分类号 |
G06F19/00 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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