Process and device for testing dielectric materials, especially condensers.

摘要

La présente invention concerne un procédé et un dispositif de test de matériaux diélectriques et en particulier de condensateurs. Le dispositif comprend une unité de mesure (300) recevant l'élément à tester (Cx) en série d'une impédance de référence dans une chaîne de mesure, une base de temps (100) apte à appliquer à la chaîne de mesure des créneaux répétitifs de stiulation, des moyens de remise à zéro de la tension aux borres de l'impédance de référence, au cours de chaque demi-alternance inactive des créneaux de stimulation, une unité d'échantillonnage (400) qui échantillonne la réponse á des temps décalés progressivement par rapport aux créneaux de stimulation et une unité de traitement (200) qui analyse les échantillons établis par l'unité d'échantillonnage pour en déduire les paramètres de l'élément testé selon un modèle de FOSTER.